【6th.May】球差校正分析透射電子顯微學(xué)方法中的定性到定量
日期：2021-05-06
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題目：球差校正分析透射電子顯微學(xué)方法中的定性到定量
報告人：周丹博士，DENS solutions公司，Application Scientist
時間：2021年05月06日，星期四，13：30-15：30
地點(diǎn)：霞光樓 200號 報告廳
邀請人：劉晰 特別研究員
報告簡介：
透射電子顯微學(xué)對材料的形貌，成分和結(jié)構(gòu)的表征分析，對于建立材料的結(jié)構(gòu)和性能的關(guān)聯(lián)，從而改進(jìn)合成方案的研發(fā)起著至關(guān)重要的作用。20世紀(jì)末電子光學(xué)中的球差矯正器的成功實(shí)現(xiàn)將透射電鏡的分析功能帶入到了一個新的時代。原子分辨率的成像方法(HAADF, ABF, DPC, etc)及譜學(xué)方法（EELS和EDS）也經(jīng)歷了或者正在經(jīng)歷著從開始的定性的可視化，到逐步的半定量，到絕對定量的發(fā)展。本次報告將重點(diǎn)介紹透射電子顯微學(xué)中輕元素成像方法ABF以及重元素成像方法HAADF對原子位置和數(shù)目的定性到絕對定量的實(shí)現(xiàn)的過程。絕對的定量需要對實(shí)驗(yàn)條件非常精準(zhǔn)的測量和把控，會有大量數(shù)據(jù)的處理，也會需要結(jié)合材料計(jì)算，機(jī)器學(xué)習(xí)等方法。在報告的最后簡單介紹相對松一點(diǎn)的基于應(yīng)用實(shí)際需求的半定量的可能性和實(shí)現(xiàn)方法。
報告人簡介：
周丹,博士.2011年畢業(yè)于愛爾蘭圣三一學(xué)院物理系，獲碩士學(xué)位;2015年畢業(yè)于德國馬克斯普朗克研究固體物理研究所，斯圖加特電鏡中心，獲德國達(dá)姆斯特塔工業(yè)大學(xué)博士學(xué)位;2016-2017年，于美國威斯康星麥迪遜分校做博士后;2017年10月，德國馬克斯普朗克研究固體物理研究所，斯圖加特電鏡中心博士后;2019年4月起加入DENSsolutions做Application Scientist,
加入DENSsolutions之前，主要致力于電子顯微學(xué)中原子分辨率定量分析方法的研發(fā); 在DENSsolutions負(fù)責(zé)透射電子顯微鏡中通氣體的原位實(shí)驗(yàn)技術(shù)開發(fā)和推廣
